Design, Test und Zuverlässigkeit

Die ständig wachsende Komplexität mikroelektronischer Systeme stellt eine enorme Herausforderung an den Entwurf und die Fertigung solcher Systeme dar. Neue Anforderungen hinsichtlich Energieeffizienz, Leistungsfähigkeit, Baugröße und vor allem der Zuverlässigkeit der Systeme müssen von Beginn an berücksichtigt werden.

Im Technologiepark »Design, Test und Zuverlässigkeit« werden dafür in enger Kooperation mit den anderen drei Technologieparks Angebote mit folgenden Schwerpunkten entwickelt:

• Design von Systemen und Komponenten u.a. in den Bereichen Sensorik und Aktorik, Leistungselektronik, Höchstfrequenztechnik sowie breitbandige Datenübertragung,
• messtechnische Charakterisierung von neuen Materialien und Bauelementen, entwicklungsbegleitende Performanceanalyse, Test und Verifikation von Schaltungen und Systemen sowie die umfassende Erprobung von neuartigen Lösungen im Anwendungskontext,
• Bewertung von Zuverlässigkeit und Lebensdauer unter Berücksichtigung der Anforderungen aus Anwendungssicht.

Durch die besondere multidisziplinäre Zusammenarbeit in diesem Technologiepark wird es möglich, mit unseren Kunden passfähige und zuverlässige innovative Systemlösungen zu entwickeln.

 

Kooperierende Institute

System-Know-how, Kompetenzen in Design und Test sowie technologisches Wissen aller an der FMD beteiligten Fraunhofer- und Leibniz-Institute.