Design, Test und Zuverlässigkeit

Design, Test und Zuverlässigkeit

Die ständig wachsende Komplexität mikroelektronischer Systeme stellt eine enorme Herausforderung an den Entwurf und die Fertigung solcher Systeme dar. Neue Anforderungen hinsichtlich Energieeffizienz, Leistungsfähigkeit, Baugröße und vor allem der Zuverlässigkeit der Systeme müssen von Beginn an berücksichtigt werden.

Im Technologiepark »Design, Test und Zuverlässigkeit« werden dafür in enger Kooperation mit den anderen drei Technologieparks neue wissenschaftliche Ansätze in folgenden Schwerpunkten entwickelt:

Ausbau der Designfähigkeit auf System- und Komponentenebene und Anpassung an die neuen Anforderungen aus Anwendungssicht,

leistungsfähige Methoden für die messtechnische Charakterisierung von neuen Materialien und Bauelementen, die entwicklungsbegleitende Performanceanalyse, Test und Verifikation von Schaltungen und Systemen sowie die umfassende Erprobung von neuartigen Lösungen im Systemkontext,

Bewertung von Zuverlässigkeit und Lebensdauer auf Basis der physikalischen Alterungs- und Fehlermechanismen und der Eigenschaften der eingesetzten Technologie unter Berücksichtigung der Anforderungen aus Anwendungssicht.

Durch die besondere multidisziplinäre Zusammenarbeit in diesem Technologiepark wird es möglich, mit unseren Kunden passfähige und zuverlässige innovative Systemlösungen zu entwickeln.

 

Kooperierende Institute

System-Know-how, Designkompetenzen und technologisches Wissen aller an der FMD beteiligten Fraunhofer- und Leibniz-Institute.